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中科漢威超聲波相控陣探傷儀 *

簡要描述:中科漢威超聲波相控陣探傷儀 *: 具有長續(xù)航時間、高檢測效率、人性化的操作界面,現(xiàn)場使用性更好,可實現(xiàn)現(xiàn)場

  • 產(chǎn)品型號:HS810
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2024-07-09
  • 訪  問  量:1231

詳細(xì)介紹

HS810便攜式TOFD超聲波檢測儀

 

HS810滿足 GB/T4730、EN12668、BS 7706、ASTM、ASME便攜式ENV583 超聲波CEN -14751、
 NEN 1822、DNV、API、RBIM等標(biāo)準(zhǔn)及新容規(guī)、鍋規(guī)的指標(biāo)要求;
具有JB/T 4730推薦使用的TOFD缺陷測長功能——合成孔徑聚焦(SAFT);
 具有長續(xù)航時間、高檢測效率、人性化的操作界面,現(xiàn)場使用性更好,可實現(xiàn)現(xiàn)場遠(yuǎn)程控制及自動掃查:
 提供滿足企業(yè)特殊要求的軟件定制服務(wù)。
 提供滿足現(xiàn)場特殊檢測要求的手動、 自動掃查器及硬件配置定制服務(wù)。

 

HS810A 中科漢威超聲波相控陣探傷儀 *特優(yōu)點
→ 全中文菜單式友好操作界面,方便快捷;
→ *高亮彩色液晶顯示,可根據(jù)不同現(xiàn)場環(huán)境改變;
→ 超聲衍射波成像檢測,解決傳統(tǒng)放射檢測的掃查
    厚度及檢測效率局限性,節(jié)約探傷成本;
→ 集A掃、B掃成像、C掃成像、P掃成像、TOFD成像、
    導(dǎo)波成像等多能一體;
→ HS810*有合成孔徑聚焦技術(shù),領(lǐng)潮行業(yè),有效提高缺陷
     測量精度;
→ HS810波形相位穩(wěn)定,信噪比高,缺陷識別更清晰;
→HS810 內(nèi)置現(xiàn)場檢測工藝模型,自動生成檢測工藝;
→ HS810便攜掃查器及自動掃查裝置代替手工掃查,滿足各
     種工件檢測要求;
→ HS810多通道TOFD檢測實現(xiàn)大厚壁焊縫一次性全*覆蓋;
→ HS810超大機內(nèi)存儲空間及便捷的文件網(wǎng)絡(luò)傳輸功能;
→ HS810高分子復(fù)合材料機身,有效防震、抗跌落;
→ HS810集成數(shù)據(jù)電纜,裝卸方便,信號傳輸損耗小;
→ HS810高性能安保鋰電,模塊插接,一機兩電,超長續(xù)航。

HS810B中科漢威超聲波相控陣探傷儀 *探傷功能
掃查方式:HS810對焊縫進(jìn)行全面非平行、平行掃查
缺陷定位:HS810分析軟件直接讀出缺陷位置、深度、自身高度
缺陷顯示:HS810直觀顯示缺陷在工件中的位置及上下端點
A型掃描HS810:射頻顯示提高儀器對材料中缺陷模式的評價能力
B掃成像:HS810實時顯示缺陷截面形狀
C掃成像:HS810實時顯示缺陷俯視成像
D掃成像:HS810實時顯示缺陷的灰度掃查圖,直觀顯示缺陷并對
            缺陷質(zhì)量進(jìn)行評價
P掃成像:實時空氣超聲定位,對缺陷進(jìn)行三維描述,提高
            缺陷判性準(zhǔn)確率
導(dǎo)波成像:對薄壁工件進(jìn)行一維掃查,獲取二維成像

C 掃描范圍
多路TOFD檢測和PE檢測全*覆蓋200mm厚度以內(nèi)的分區(qū)
掃查;可擴展至400mm厚度。

D 數(shù)據(jù)分析
直通波去除:近表面缺陷處理工具,提高近表缺陷分析精度
橫豎調(diào)整:滿足不同現(xiàn)場操作習(xí)慣
SAFT:*有效提高缺陷測量精度的功能

E數(shù)據(jù)存儲與輸出
→預(yù)先調(diào)校好各類探頭與儀器的組合參數(shù),方便存儲、調(diào)出、離線分析、
   復(fù)驗、打印、通訊傳輸。
→超大內(nèi)存容量,單次掃查*多可記錄40米。
→掃查圖像、文件可根據(jù)使用要求自動保存、自動編名。
→支持雙USB拷貝、網(wǎng)絡(luò)傳輸、外接顯示器等。


HS810技術(shù)參數(shù)
頻帶寬度:0.3-22MHz
脈沖電壓:-400V
脈沖前沿 lt;10ns
重復(fù)頻率:1000Hz(每通道)
平均次數(shù):8
采樣深度:512,1024
匹配阻抗:25,500
檢波方式:數(shù)字檢波
增益范圍:0dB-110dB波形顯示方式:射頻波,
            檢波(全檢、負(fù)或正半檢波),
            信號頻譜(FFT)
掃描延時:0~500us可控0.008us精度
掃查定位:時基(內(nèi)置實時時鐘-0.02秒精度)/真實位置(增量編碼器-0.5mm精度)
成像模式:根據(jù)選擇的操作模式和相應(yīng)的儀器配置及設(shè)置顯示連續(xù)A掃、B掃成像、C掃成像、TOFD成像、P掃成像、導(dǎo)波成像
直線掃查長度:0-40米
記錄方式:*原始數(shù)據(jù)記錄
離線分析:恢復(fù)和回放掃查時記錄的A掃波形
            缺陷尺寸測量和輪廓描述
            厚度/幅度數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析
            記錄轉(zhuǎn)換到ASCⅡ/MS Word/MS Excel

數(shù)據(jù)報告:直接打印A掃、頻譜圖、B掃圖象、C掃圖象、TOFD圖象、P掃圖象、導(dǎo)波檢測

上海玖橫儀器有限公司是一家專業(yè)從事儀器儀表研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及服務(wù)的企業(yè)。超聲波探傷儀:(EPOCH 600超聲探傷儀EPOCH 6LT超聲探傷儀、EPOCH 650超聲探傷儀EPOCH 1000超聲探傷儀、USM 36超聲探傷儀、USN 60超聲探傷儀、USM go+超聲探傷儀、Ominscan SX相控陣探傷儀OmniScan MX2相控陣TOFD探傷儀);超聲波測厚儀:(27MG超聲波測厚儀45MG超聲波測厚儀38DL PLUS超聲波測厚儀DM5E超聲波測厚儀、CL5超聲波測厚儀、MAGNA-MIKE 8600霍爾效應(yīng)測厚儀ETG-100電磁高溫測厚儀);超聲波探頭;定制相控陣探頭;渦流探傷儀:(NORTEC 600渦流探傷儀);硬度計;內(nèi)窺鏡:(IPLEX NX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX GX/GT奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX G Lite奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX TX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX YS奧林巴斯內(nèi)窺鏡、XLGo+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE、XL Detect+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE新款、UVin專業(yè)紫外視頻內(nèi)窺鏡、);脈沖發(fā)生器:(DRP300替代奧林巴斯的5072PR,5073PR);合金分析儀:(Vanta奧林巴斯手持式合金分析儀、DELTA Professional手持式合金分析儀奧林巴斯、DELTA Element手持式合金分析儀奧林巴斯)等儀器儀表。上海玖橫儀器有限公司SWC-2橫波耦合劑,橫波探頭的耦合劑。

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